Kontakt
NanoTechIP
IFPAN
Wydarzenia
Projekt DIALOG
Strona główna
Aktualności
Konferencja prasowa
"Wyzwania Fizyki"
17-17 listopada 2022,
Instytut Fizyki PAN
CTT IFPAN
C
entrum
T
ransferu
T
echnologii
Instytutu Fizyki PAN
Optoelektronika
Produkty
Materiały
Usługi technologiczne
Charakteryzacja
Dziedziny
Biologia i Medycyna
Elektronika
Fotowoltaika
Optoelektronika
Technologia
Materiały
• Aktywne luminofory na bazie domieszkowanego
glinianu cynku
• Aktywne optycznie materiały na bazie nanokrystalicznego tlenku cynku
• Amorficzne warstwy izolujące
• Detektor UV wysokiej czułości oparty o nanosłupki ZnO
• Epitaksjalne warstwy ZnO o obniżonej chropowatości powierzchni wytwarzane w technologii osadzania warstw atomowych
• Epitaksjalny tlenek cynku
• Monokrystaliczne nanosłupki tlenku cynku
• Nanokrystaliczne luminofory na bazie dwutlenku cyrkonu
• Polikrystaliczne warstwy tlenku cynku
• Przewodzące warstwy tlenku cynku
• Przewodzące warstwy tlenku cynku domieszkowanego
glinem
• Struktury diodowe p-n pod selektywny detektor UV
• Tlenkowe warstwy kompozytowe
• Ultraczysty Magnez
• Ultraczysty Mangan
• Warstwy dwutlenku cyrkonu
• Warstwy dwutlenku hafnu
• Warstwy dwutlenku tytanu
• Warstwy tlenku glinu
Usługi technologiczne
• Fizyczne osadzanie z fazy gazowej (PVD)
• Osadzanie warstw atomowych (ALD)
• Pomiary fotoluminescencji
• Technologia wytwarzania warstw ZnO implantowanych pierwiastkami ziem rzadkich
• Wygrzewanie RTP
Charakteryzacja
• Dozymetr termoluminescencyjny promieniowania
jonizującego
• Laboratorium Technik Wiązek Jonowych
• Mikroskopia sił atomowych (AFM)
• Pomiary składu i dystrybucji pierwiastków EDX
• Rentgenowska spektroskopia fotoelektronowa, spektroskopia fotoelektronowa w zakresie ultrafioletu (UPS)
oraz dyfrakcja niskoenergetycznych elektronów (LEED)
• Rentgenowskie badania dyfrakcyjne (XRD)
• Skaningowa Mikroskopia Elektronowa (SEM)
• Spektrometry NMR do badan materiałów magnetycznych
• Spektroskopia głębokich poziomów defektowych (DLTS)
• Spektroskopia UV-Vis
• Spektroskopia w podczerwieni (FTIR)
• Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa (TEM)