Aktualności
Fizyka przed Wyzwaniami Cywlizacyjnymi

17 stycznia 2019,
Instytut Fizyki PAN
CTT IFPAN
Centrum Transferu Technologii
Instytutu Fizyki PAN
Charakteryzacja - Rentgenowskie badania dyfrakcyjne (XRD)

Opis

Zjawisko dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego umożliwia między innymi identyfikację składu fazowego mieszanin substancji krystalicznych, analizę orientacji uprzywilejowanej, czyli tekstury krystalograficznej, oraz pomiar parametrów sieci. Do pomiaru natężenia dyfrakcji rentgenowskiej służy dyfraktometr rentgenowski MRD firmy Panalytical z nowej generacji detektorem Pixcel. Interpretacja dyfraktogramów stanowi istotę rentgenowskiej analizy fazowej, analizy tekstury, wyznaczania parametrów sieci, a także umożliwia analizę różnych innych zjawisk zachodzących w strukturach krystalicznych.

 

Pomiary

  • Proszkowa dyfrakcja rentgenowska:
    • Pomiary stałych sieci
    • Analiza fazowa związków
    • Analiza strukturalna związków
    • Analiza składu związków
  • Wysokorozdzielcza dyfrakcja rentgenowska
    • Analiza naprężeń warstw i wielowarstw
    • Analiza tekstury kryształów
    • Mapowanie węzłów sieci odwrotnej kryształów
    • Pomiary stałych sieci kryształów
  • Reflektometria
    • Badanie chropowatości warstw i wielowarstw

 

Koło Eulera

  • zakres obrotu współrzędnej chi (psi): ±90°, najmniejszy krok: 0.01°,
  • zakres obrotu współrzędnej phi: -2 × 360°, najmniejszy krok: 0.02°,
  • zakres przesunięcia współrzędnych X i Y: 100 mm, najmniejszy krok: 0.01 mm,
  • zakres przesunięcia współrzędnej Z: 11 mm, najmniejszy krok: 1 µm;

Dyfraktometr.

Koło Eulera - ruch w sześciu osiach.

Przykładowe mapy przestrzeni odwrotnej.


Osoby do kontaktu: prof. Marek Godlewski, e-mail: godlew@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 32 57
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061