Aktualności
Fizyka przed Wyzwaniami Cywlizacyjnymi

17 stycznia 2019,
Instytut Fizyki PAN
CTT IFPAN
Centrum Transferu Technologii
Instytutu Fizyki PAN
Charakteryzacja - Spektroskopia UV-Vis

Spektroskopia VU-Vis jest stosowana rutynowo w chemii analitycznej w celu wyznaczenia zawartości różnych składników, takich jak jony metali przejściowych,  silnie związane  składniki organiczne i makromolekuły biologiczne. Wykorzystuje  światło widzialne oraz  w zakresie bliskiego nadfioletu i podczerwieni.  Analiza jest zwykle przeprowadzana w roztworach, ale można badać również ciała stale i gazy. Technika ta została opracowana w celu przeprowadzenia pomiarów absorpcji próbek ciekłych. Rozwój spektrofotometrów o wysokiej precyzji oraz energii umożliwił pomiary w trybie odbiciowym oraz absorpcyjnym na próbkach stałych, w tym półprzewodników, cienkich warstw, szkieł, itp. Spektroskopia UV-Vis jest powszechnie wykorzystywana w  naukach przyrodniczych gdzie wymagane są analizatory o dużej wydajności oferujące wysoką czułość oraz dużą szybkość pomiaru, co z kolei daje możliwość przeprowadzenia pomiarów próbek o ultra-śladowych zawartościach badanych składników.

  • Zakres długości fali: 185 - 1400nm
  • Próbki w stanie ciekłym oraz stałym (o gładkich i chropowatych powierzchniach)
  • Tryby fotometryczne: Absorbcja (Abs.), transmisja (%), odbicie (%), energia (E)

Układ fotometryczny: Podwójny układ optyczny
Monochromator: Czerny-Turner stosuje siatkę dyfrakcyjną Lo-Ray-Ligh
Detektor: Fotopowielacz R-928
Źródło światła: Lampa halogenowa 50 W, lampa deuterowa
Zakres pomiaru długości fali: 185 - 900nm; 220 nm to 1400 nm z zastosowaniem sfery całkującej ISR-2600Plus
Dokładność długości fali: ±0.1 nm (656.1 nm D2), ±0.3 nm (wszystkie obszary)
Powtarzalność długości fali: ±0.05nm
Prędkość skanowania długości fali: Podczas przesuwania długości fali: 14000 m/min; Podczas skanowania długości fali: około 4000 to 0.5 nm/min
Automatyczne przełączanie w zakresie długości fali; Zmienna długość fali: można przełączać w zakresie od 290 do 370 nm (z krokiem 0.1 nm)
Szerokość pasma widmowego: 0.1/0.2/0.5/1/2/5 nm
Światło rozproszone: Max. 0.005 % (220 nm, NaI); Max. 0.005 % (340, 370 nm, NaNO2); Max. 1 % (198 nm, KCl)
Dokładność fotometryczna: ±0.002Abs (0.5Abs); ±0.003Abs (1Abs); ±0.006Abs (2Abs); ±0.3%T

Dane wykorzystane ze strony http://www.shimadzu.com

Spektrofotometr SHIMADZU UV - 2600Plus (ze sferą całkującą)

 

Pomiar Transmisyjny

 

 

Pomiar współczynnika odbicia rozproszonego - przystawka ISR-2600Plus ze sferą całkującą

 


Osoby do kontaktu: dr Iraida Demchenko, e-mail: demch@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 33 95
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061