Mikroskop sił atomowych (AFM) jest rodzajem mikroskopu ze skanującą sondą. Mikroskop Bruker Dimension Icon umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni wysoką (nanometrową) zdolność rozdzielczością w kierunku osi Z nawet ~ 1-2 Å, dzięki wykorzystaniu modu „PeakForce Tapping” i sond azotkowo-krzemowych, wyposażonych w bardzo ostre igły (promień końcówki 2 nm). W odróżnieniu od trybu kontaktowego i przerywanego kontaktu, tryb ten znacząco zmniejsza siłę, a tym samym powierzchnię oddziaływania sondy z próbką, poprawiając tym samym rozdzielczość w płaszczyźnie XY skanowanego obrazu i jest mniej destruktywny dla sondy oraz badanej próbki. Mikroskop jest wyposażony jest w trzy tryby do pomiaru morfologii powierzchni, a także liczne mody pozwalające na analizę właściwości fizycznych badanych materiałów.
Za pomocą mikroskopu AFM można uzyskać mikroskopowe mapy obrazujące zarówno ukształtowanie powierzchni, jak i jej właściwości fizyczne, takie jak: gładkość, tarcie, adhezję, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczna, struktura domen magnetycznych, potencjał powierzchniowy. Pomiary AFM umożliwiają analizę powierzchni różnego rodzaju struktur o gładkiej jak i bardziej rozbudowanej powierzchni (tj. cienkie warstwy, nanosłupki czy kropki kwantowe) o wartości średniej kwadratowej chropowatości powierzchni (RMS) wynoszącej od poniżej 1 nm do około 100 nm.
![]() Mikroskop sił atomowych z możliwością badania powierzchni próbek o średnicy do 21 cm. |
![]() Sonda azotkowo-krzemowa wyposażona w bardzo ostrą igłę (promień końcówki - 2 nm). |
![]() Skany powierzchni (10 x 10 µm) cienkich warstw tlenkowych (lewy) i kropek kwantowych (prawy). |