Aktualności
Fizyka przed Wyzwaniami Cywlizacyjnymi

17 stycznia 2019,
Instytut Fizyki PAN
CTT IFPAN
Centrum Transferu Technologii
Instytutu Fizyki PAN
Charakteryzacja - Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Opis

Mikroskop sił atomowych (AFM) jest rodzajem mikroskopu ze skanującą sondą. Mikroskop Bruker Dimension Icon umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni wysoką (nanometrową) zdolność rozdzielczością w kierunku osi Z nawet ~ 1-2 Å, dzięki wykorzystaniu modu „PeakForce Tapping” i sond azotkowo-krzemowych, wyposażonych w bardzo ostre igły (promień końcówki 2 nm). W odróżnieniu od trybu kontaktowego i przerywanego kontaktu, tryb ten znacząco zmniejsza siłę, a tym samym powierzchnię oddziaływania sondy z próbką, poprawiając tym samym rozdzielczość w płaszczyźnie XY skanowanego obrazu i jest mniej destruktywny dla sondy oraz badanej próbki. Mikroskop jest wyposażony jest w trzy tryby do pomiaru morfologii powierzchni, a także liczne mody pozwalające na analizę właściwości fizycznych badanych materiałów.

 

Parametry

  • Zakres skanowanie w płaszczyźnie X-Y: 60x60 μm (maksymalny), 10x10 μm (typowy)
  • Zakres w osi Z: 9 - 10 μm
  • Rozmiar badanej próbki: 21 cm
  • Próżniowy uchwyt do próbek:
  • Przyrządy optyczne:
    • 5-megapikselowy aparat cyfrowy
    • pole widzenia: 180 - 1465 μm
    • zoom cyfrowy i elektryczna regulacja ostrości
  • Oprogramowanie: NanoScope
  • Izolacja drgań: pneumatyczna
  • Izolacja hałasu: do 85 dBC

 

Zastosowania

Za pomocą mikroskopu AFM można uzyskać mikroskopowe mapy obrazujące zarówno ukształtowanie powierzchni, jak i jej właściwości fizyczne, takie jak: gładkość, tarcie, adhezję, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczna, struktura domen magnetycznych, potencjał powierzchniowy. Pomiary AFM umożliwiają analizę powierzchni różnego rodzaju struktur o gładkiej jak i bardziej rozbudowanej powierzchni (tj. cienkie warstwy, nanosłupki czy kropki kwantowe) o wartości średniej kwadratowej chropowatości powierzchni (RMS) wynoszącej od poniżej 1 nm do około 100 nm.

Mikroskop sił atomowych z możliwością badania powierzchni próbek o średnicy do 21 cm.

Sonda azotkowo-krzemowa wyposażona w bardzo ostrą igłę (promień końcówki - 2 nm).

Skany powierzchni (10 x 10 µm) cienkich warstw tlenkowych (lewy) i kropek kwantowych (prawy).


Osoby do kontaktu: prof. Marek Godlewski, e-mail: godlew@ifpan.edu.pl, tel: (+48) 22 116 32 57
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk, Aleja Lotników 32/46, 02-668 Warszawa
tel.: (+48) 22 843 70 01 | fax: (+48) 22 843 09 26 | www.ifpan.edu.pl
NIP: 525-000-92-75, Regon: 000326061